基于核偏最小二乘法的板形过程监测
Flatness Process Monitoring Based on Kernel Partial Least Squares
-
摘要: 随着时代的发展和科技的进步,各行各业对于板材的质量和产量有了更高的要求。在实际应用中,大多数系统的内部机理十分复杂,传统的机理模型已无法满足对系统内部参数进行分析、表达。本文基于偏最小二乘法(PLS)提出一种核偏最小二乘法(KPLS)的板形过程监测方法,结果表明KPLS模型平均故障检测率为96.42%,误报率为10.14%,说明该方法用于板形的过程监测具有可行性。